SEM  掃描電子顯微鏡

價(jià)格

SEM形貌         ￥150元

磁性SEM形貌  ￥200元

EDS                ￥100元

Maping          ￥300元

液氮脆斷         ￥100元

設(shè)備型號(hào)： JSM-7401F型; JSM-7800F (日本，JEOL公司),，Zeiss Sigma 300,；Zeiss Gemini 300；Zeiss Merlin Compact,；Hitachi S4800,；蔡司 Supra 55等

注意：

請(qǐng)?jiān)跍y(cè)試單上注明：樣品是否需要噴金，有無磁性等,，測(cè)試內(nèi)容(形貌+能譜（EDS）點(diǎn)掃或能譜(EDS)線掃或(maping), 樣品是否回收,。

樣品要求：

      有磁性請(qǐng)?zhí)崆案嬷勰悠罚翰簧儆?span>15毫克,，不能含水,，若樣品不導(dǎo)電，請(qǐng)告知是否需要進(jìn)行鍍金處理,；多孔類或易潮解的樣品,，請(qǐng)?zhí)崆罢婵崭稍锾幚怼?/span>

  制樣時(shí)待測(cè)元素不能與基底成分有重合，如果要測(cè)C元素,，樣品不要分散到含C的基底上,，可以分散到硅片，錫紙上,，如果要測(cè)Si元素,，注意不要制樣到硅片上,。形貌一般每樣品提供8-12張左右照片，能譜點(diǎn)掃每樣提供2個(gè)點(diǎn),，線掃每樣測(cè)試1個(gè)位置,，面掃每樣測(cè)試1個(gè)位置，具體根據(jù)樣品的拍攝情況而定,。