筆記本維修
物性測(cè)量
成分分析
結(jié)構(gòu)形貌
譜學(xué)表征
環(huán)境地質(zhì)
機(jī)械電子
模擬計(jì)算
數(shù)據(jù)分析
同步輻射
現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試
論文潤(rùn)色
激光粒度分析儀Malvern MS-3000E
Contact angle tester 接觸角測(cè)試儀 島津 2010 JY-82B Kruss DSA
NNMT 微納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)Agilent Nano Indenter G200
萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī) instron 5965英斯特朗
HFRR-柴油潤(rùn)滑性測(cè)定儀（高頻往復(fù)法）FDR-5471
光電化學(xué)工作站 Zahner CIMPS
同位素質(zhì)譜儀 英國(guó)IsoPrime100 precision
總有機(jī)碳（TOC）分析儀 Elementar, vario TOC
全自動(dòng)高壓氣體吸附/脫附儀 Setaram PCTPro
智能重量分析儀 IGA-100A,，100B
電感耦合等離子體質(zhì)譜 MSPERKIN ELMER
液（氣）相色譜質(zhì)聯(lián)用分析儀 安捷倫7890BTSQ-Endura
離子色譜儀 ICS-2500
氨基酸分析儀 L-8900
有機(jī)元素分析儀 Thermo Fisher FLASH 2000
總有機(jī)碳測(cè)試儀 TOC 測(cè)試儀 Elementar, vario TOC
X射線衍射儀-XRD smartlab9
成分分析1
球差電鏡 Titan Cubed Themis G2300
冷凍超薄切片機(jī) Lecia EM UC7+FC7
X光電子能譜儀 AXIS Supra
透射電鏡 JEOL 2100F
原子力顯微鏡 Bruker Dimension ICON
液（固）體核磁 Bruker AVANCE III HD NMR 600M
掃描電子顯微鏡 Zeiss Gemini 300
共聚焦顯微鏡 Zeiss LSM800
電子背散射衍射 JSM7400-Pegasus XM2
單晶衍射儀 變(常)溫 BRUKER P4
FTIR紅外測(cè)試分析檢測(cè)-IR紅外測(cè)試-傅里葉變換紅外光譜測(cè)試檢測(cè) Nicolet 6700
XPS測(cè)試分析 X射線光電子能譜測(cè)試 賽默飛 250xi
基質(zhì)輔助激光解析電離-飛行時(shí)間質(zhì)譜 Ultrafle XtremeTM MALDI TOF-Ms
激光共聚焦拉曼光譜 HORIBA LabRAM HR
可見(jiàn)紫外近紅外分光光度計(jì) PerkinElmer
穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀 FLS1000
凝膠滲透色譜儀 Waters Alliance-e2695
圓二色光譜儀 CHIRASCAN
有機(jī)元素分析儀 OA
總有機(jī)碳測(cè)試儀 TOC 測(cè)試儀 Elementar, vario TOC
環(huán)境檢測(cè)
Isotope MS 同位素質(zhì)譜儀 Finnigan Delta XP
ICP MS 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀-質(zhì)譜 Agilent 7700
DSC 差示掃描量熱儀 TA
TOC 總有機(jī)碳測(cè)試儀 Multi N/C 2100S
電噴霧電離源（ESI）結(jié)合傅里葉變換離子回旋共振質(zhì)譜 Bruker SolariX? 2XR
基質(zhì)輔助激光解析電離-飛行時(shí)間質(zhì)譜Ultrafle XtremeTM MALDI TOF-Ms
激光共聚焦拉曼光譜儀HORIBA LabRAM HR Evolution
