XPS數(shù)據(jù)分析

詳情：

       XPS只能檢測原子序數(shù)高于 3 或更高的元素,，因為氫和氦原子非常小，檢測到它們的概率幾乎為零,。此外,，它只能分析 1 到 10nm 的深度。 XPS 光譜繪制了檢測到的電子數(shù)量與檢測到的電子結(jié)合能的關系,。

      由于每個元素都會在特征結(jié)合能下產(chǎn)生一個特征峰,，因此可以識別表面的元素，并且由于每個峰中的電子數(shù)與元素的數(shù)量直接相關,，因此被分析區(qū)域內(nèi)的元素組成可以計算,。系統(tǒng)中已有包含動能和結(jié)合能的表格，這將有助于識別材料表面中存在的元素,。XPS數(shù)據(jù)分析可以對全譜進行定性定量分析,；精細譜定量分析，以及標注擬合元素的化學態(tài),、峰位置和含量,；ARXPS線掃、面掃,、深度剖析等特殊數(shù)據(jù)的分析,。

注意：

請把數(shù)據(jù)信息文檔上傳：包括樣品數(shù)量、編號,、樣品測試數(shù)據(jù),；樣品及數(shù)據(jù)描述；實驗目的,；手頭有的參考文獻等。測試周期3-10天,。

XPS的數(shù)據(jù)處理軟件有Thermo Avantage,、XPS peak, Casa XPS等。