球差電鏡AC-TEM

價(jià)格：面議

型號(hào)：FEI Theims Z,，Titan Cubed Themis G2300，JEM-ARM200F,， HD-2700

注意

制樣須用微柵或者超薄碳膜,；樣品要求潔凈干燥：

1.無磁性的一般透射電鏡樣品

2. FIB制備的樣品; 分散在銅網(wǎng)上的粉末樣品; 其他透射電鏡樣品（特殊樣品桿）

3.測(cè)試價(jià)格請(qǐng)咨詢工程師。

功能

1.STEM模式能夠?qū)o機(jī)材料結(jié)構(gòu)進(jìn)行亞埃尺度（<0.1 nm）的表征和分析,；

2.能利用高角度環(huán)形暗場(chǎng)（HAADF）,、環(huán)形明場(chǎng)（ABF）、能譜（EDS）,、電子能量損失譜（EELS）等技術(shù)直接觀察無機(jī)材料中輕,、重原子的位置和排布情況，并獲得相應(yīng)的化學(xué)環(huán)境和電子結(jié)構(gòu)信息,；

3.可對(duì)無機(jī)材料進(jìn)行形貌和成分的三維重構(gòu),；

4.可對(duì)無機(jī)材料進(jìn)行差分相位襯度（DPC）分析；

5.可表征無機(jī)材料中的原子間電場(chǎng)分布,；

6.可對(duì)無機(jī)材料進(jìn)行常規(guī)的形貌,、成分,、衍射、高分辨結(jié)構(gòu)等分析,。