AFM 原子力顯微鏡

價格

薄膜樣品                            ￥300元

粉末,、塊體,、液體樣品        ￥400元

導(dǎo)電性C-AFM                    ￥1200元

彈性模量                            ￥1200元

壓電力顯微鏡（PFM）        ￥1200元

表面電勢                            ￥1500元

樣品要求：

1.樣品狀態(tài)：可為粉末、塊體,、薄膜樣品,；

2.粉末樣品：顆粒一般不超過5微米，提供20mg，液體不少于1ml,，尺寸過大請?zhí)崆白稍儯?

3.粉末/液體樣品請務(wù)必備注好制樣條件,，包括分散液，超聲時間及配制濃度,；

4.薄膜或塊狀樣品尺寸要求：長寬0.5-3cm之間,，厚度0.1-1cm之間，表面粗糙度不超過5um,，一定要標明測試面,！ 樣品尺寸需在10mm×10mm以內(nèi)，NT-MDT儀器可測量大尺寸樣品,。

5.測試壓電,、表面電勢的材料需要將樣品制備在導(dǎo)電基底上，基底大小大于0.5*0.5cm,。

表征技術(shù)：

1. 力學性質(zhì)：力曲線,，楊氏模量，黏附力,，摩擦力等,；

2. 電磁學性質(zhì)：表面電勢，導(dǎo)電原子力,，壓電力響應(yīng),，靜電力，掃描電容顯微鏡,，磁場力顯微鏡等,；

3. 光學性質(zhì)：AFM-拉曼聯(lián)用；

4. 納米加工：納米壓痕/劃痕等,。

應(yīng)用范圍：

1.生物學和生物技術(shù),，蛋白質(zhì)、 DNA,、病毒,、細菌、組織等,；

2.材料科學,，表面形貌形態(tài)、壓電性質(zhì),、粘滯力分析,、摩擦特性分析等；

3.磁材料,，磁疇結(jié)構(gòu)成像,、觀察因外部磁場引起的磁性的反轉(zhuǎn)、不同溫度下的磁結(jié)構(gòu)變化等；

4.半導(dǎo)體和電學性質(zhì)測量,，硅片等材料的表面形貌,、表面電勢和電容測量、表面電荷分布圖,、摻雜濃度分析,、失效分析(局域?qū)щ娦院徒^緣層漏電流)；

5.聚合物和有機薄膜,，球狀或柱狀晶體,、聚合物單晶材料、聚合物納米顆粒,、LB 膜,、有機薄膜等；

6.納米材料,，納米粉體,、納米復(fù)合材料、納米多孔材料,；

7.納米結(jié)構(gòu)材料,，富勒烯、碳納米管,、納米絲,、納米膠囊；

8.納米電子學,，量子點,、納米線、量子結(jié)構(gòu),。