X射線衍射儀

價(jià)格

測(cè)試類型為常規(guī)，

掃描速度為10°,， ￥40元,，

掃描速度為5°，   ￥60元,，

掃描速度為2°,，   ￥100元。

高溫XRD/點(diǎn),，     ￥200元

低溫XRD/點(diǎn),，     ￥200元

測(cè)試類型為小角，

掃描速度為1°/min,，  ￥100元,，

掃描速度為0.5°/min，￥150元。

回收樣品增加50元,。

注意：

1.送樣須標(biāo)注好樣品編號(hào),；

2.可開具正規(guī)測(cè)試發(fā)票和簽訂正式測(cè)試合同；

3.提供raw源數(shù)據(jù)+TXT格式,，不含標(biāo)峰等數(shù)據(jù)分析,。

4.委托測(cè)試單務(wù)必隨樣寄出，以便第一時(shí)間提供測(cè)試服務(wù),。

樣品要求：

粉體樣——提供30mg以上樣品量,，顆粒度盡量細(xì)（盡量過(guò)一下300目）；

薄膜樣——長(zhǎng)寬在10-15mm之間,，整體厚度小于5mm,，膜厚最好在微米級(jí)；

塊體樣——測(cè)試面清潔平整,，長(zhǎng)寬在10-15mm之間,，厚度小于5mm。

XRD: X射線衍射

薄膜: 掠射模式

變溫: 低溫XRD 高溫XRD

儀器特點(diǎn)：

智能X射線衍射儀SmartLab系列,，可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域

可以分析的材料包括：金屬材料,、無(wú)機(jī)材料、復(fù)合材料,、有機(jī)材料,、納米材料、超導(dǎo)材料,，液晶材料

可以分析的材料狀態(tài)包括：粉末樣品,、塊狀樣品、薄膜樣品,、微區(qū)微量樣品、液體樣品,、通納米材料,、藥品、半導(dǎo)體