X射線光電子能譜測試

價格

非磁性樣XPS測試           ￥200元

磁性樣XPS測試              ￥350元

UPS紫外光電子能譜       ￥500元

深度刻蝕XPS/點             ￥400元

價帶譜                           ￥350元

詳情

XPS: X射線光電子能譜

UPS紫外光電子能譜: 價帶譜、功函數(shù)

刻蝕XPS: 表面清潔,、深度刻蝕

注意：

1.送樣須用簡單編號標注好樣品編號,，樣品含有鹵族元素需說明,；

2.可開具正規(guī)測試費發(fā)票,，可簽訂正式測試合同,；

3.數(shù)據(jù)提供源數(shù)據(jù)即VGD格式和Excel格式,；

4.測試周期一般為到樣后7個工作日,。

樣品要求：

1.粉末測試需要量15毫克以上,，樣品需干燥,；

2.塊體和薄膜樣品尺寸小于5*5mm，厚度低于4mm,，表面須平整,，樣品需干燥；

3.液體樣須滴在鋁箔或者硅片等載體上烘干形成液膜,，一般重復3-5次烘干滴液差不多即可測不到基底,；

4.材料必須是無放射性、無毒性,、無揮發(fā)性物質(如單質Na, K, S, P, Zn, Se, As, I, Te, Hg等),，鹵族元素請?zhí)崆案嬷?/span>

5.磁性樣品（樣品含有鐵鎳鈷均需要算磁性樣），可以測試,，請送樣時告知,；

6.UPS樣品需要導電，部分粉末樣可壓片測試,，薄膜樣品尺寸需1cm*1cm*0.5mm左右,。

XPS是分析研究固體表面元素成份、元素分布,、元素價態(tài)和化學態(tài)等表面化學特性方面的重要儀器,，原則上能分析除H,、He以外的所有元素，尤其適用于分析材料表面元素的化學價等,，檢測靈敏度0.1%～1%原子濃度比,。

XPS適于分析固體樣品，形狀不限,，粉末樣品也可以分析,，但以表面光滑的片狀為好，如納米薄膜材料,，催化劑,，微電子材料，高分子材料,，生物材料,，金屬材料，半導體材料,，無機非金屬材料等,。原則上樣品表面應維持欲分析狀態(tài)。對表面污染的樣品可采取適當措施,，予以清潔,，安裝時應使樣品與樣品托有良好的電接觸，具有放射性,、揮發(fā)性的樣品不宜分析,。

技術指標：

1. 極限能量分辨率為0.43eV;

2. 分析室真空度優(yōu)于5×10-10 mbar;

3. 能量分析范圍為0-5000eV;

4. 通過能范圍為1-400eV。

5. 固體樣品的表面成分分析,、化學態(tài)分析,，取樣深度一般約為1-10nm,其中金屬材料為0.5-3nm，無機材料2-4nm,，有機高聚物5-10nm;

測試原理

X射線光電子能譜分析(XPS)是用X射線去輻射樣品,，使原子或分子的內(nèi)層電子或價電子受激發(fā)射出來。被光子激發(fā)出來的電子稱為光電子,，可以測量光電子的能量,，以光電子的動能為橫坐標，相對強度(脈沖/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖,，從而獲得待測物組成,。XPS主要應用是測定電子的結合能來實現(xiàn)對表面元素的定性分析，包括價態(tài),。